内容简介

普林斯顿仪器最新研发的集成型光谱系统FERGIE，实现了在全波长范围和全焦平面内的零像差设计，其突破性的光学设计能够以更短的焦长和更小的体积实现更高的光谱分辨率，在整个光谱覆盖范围内（200nm至1100nm）达到衍射极限的成像质量，其优秀的性能可以满足高光谱，多通道光谱，拉曼等应用的需求。

FERGIE内置了背照式帧转移芯片，芯片表面同时具备了紫外与近红外镀膜，以便取得最宽的探测范围与最高的量子效率。本报告将着重探讨这款世界上首台零像差光谱仪的成像特性与高敏度芯片技术，同时也会介绍FERGIE在集成化与模块化光路部件采用的独特设计。

主讲人简介

艾中凯： 普林斯顿仪器应用工程师，博士毕业于新加坡国立大学（NUS）电子工程专业；在纳米光子学，弱光探测，高分辨光谱，纳米技术领域有多年的研发与应用经验。